产品概述

JW18001-LIV 激光芯片测试系统是一款上海嘉慧最新研发的测量激光芯片电压电流功率曲线参数的测试仪器。可直接测量激光器裸片，并控制芯片处于恒温状态。它针对激光器芯片的测试进行了软硬件设计，可测试LIV、PER及光谱仪相关参数。主机设备及平台可根据应用场景进行移动测试，探针通电，夹具可配合高低温实验箱进行高温老化实验监控，小型水冷循环系统可在进行高温老化实验后实现恒温控制，夹具具有温度检测功能，提高测试效率。上位机软件功能强大易操作，界面风格简洁。支持阈值自动判定及测试数据图形化。

可搭配我司JW18001-LDM老化测试系统进行实现整套老化激光芯片检测解决方案。

主要应用

激光器裸片

激光芯片厂家

产品特点

1)    模块化设计，具有高可靠性；

2)    每个通道可独立控制，每个夹具最多控制20个通道；

3)    可调LD驱动电路，电流可达0~500mA（如需更大电流，可定制）；

4)    一机多用，可测量LIV、PER及光谱仪相关参数；

5)    小型水冷循环系统PID，在高温老化实验后保持恒温控制状态；

6)    夹具具有温度检测功能，可根据设定温度自动启动测量，更加安全高效；

7)    自动化集成度高，上位机软件自选阈值测试/判定，阈值计算，计量点设置，激光器扫描设置，自定义通道选择，满足多样化需求；

8)    上位机软件高效数据分析功能，可自动存储历史测试结果，自选数据进行图形可视化对比；

9)    主机集成，占地面积小，静音测试，更安静的测试环境；

10)   可自定义调节扫描时间及测试档位，测试时间可随时终止；

11)   内嵌PC机，无需单独配置电脑，测试系统简洁，方便操作；

12)   激光驱动模块、电机驱动模块分别独立设计，便于维护及升级；

测试系统外观