丨产品简介
光纤微裂纹测试仪是一款基于时域光学相干断层扫描(TD-OCT)技术的高精度反射分布测量设备。它采用
经典的迈克尔逊干涉仪结构,将低相干光源输出的光通过耦合器分为两路,分别引入待测器件(DUT)和
可移动反射镜。当两路光的光程差为零时,反射光发生干涉,干涉光强度与DUT的光回波损耗成正比,从
而精确获得该位置的回波损耗值。通过连续移动反射镜并记录干涉信号,仪器能够重构出DUT内部光回波
损耗随位置的分布曲线,实现对微小缺陷的精准定位与定量分析。
丨核心特点
·超高灵敏度,捕捉极微弱反射
灵敏度达 -75 dB 以上,能够检测到光纤中极其微小的折射率变化,即使是纳米级微裂纹或连接点异常也能
清晰呈现,为高可靠性检测提供有力保障。
·清晰曲线,灵活阈值设置
测试结果以清晰曲线展示,回波损耗分布一目了然。用户可根据需求自由设定阈值和分辨率,系统支持超
限自动警告提示,帮助快速识别异常点,提升检测效率。
·简洁直观,一键智能测量
人性化界面设计,操作简单便捷,只需轻触按键即可自动完成测量。无需复杂设置,降低使用门槛,
让您聚焦于数据分析而非仪器操作。
丨应用领域
·微裂纹检测
精准定位光纤内部微小裂纹,评估机械可靠性。
·特种器件分析
适用于光纤光栅、保偏光纤等特种器件的反射特性研究。
·光模块测试
检查模块内部光路连接质量,确保信号传输性能。
·科学研究
对光模块、跳线、WDM器件等内部光纤路径进行微裂纹检测,确保其在振动、温度循环等应力下的可靠性。



丨技术指标
| 规格型号 | JW18001光纤微裂纹测试仪 |
| 工作波长 | 1550nm |
| 测试长度 | 10-140mm(可根据需求定制) |
| 单次测量耗时 | <10s |
| 回损测量范围 | 10~75dB |
| 距离分辨率 | 3um |
| 输入电压 | AC220v |
| 通讯接口 | USB3.0 |
| 尺寸mm | 355*363*132mm |
| 重量kg | 5.5 |