产品描述

JW8605-MPO偏振消光比测试仪是一款专用于MPO、FA等多通道保偏光纤器件偏振特性分析的高精度测量系统。该设备采用大口径5mm探测器与集成化偏振旋转模块，结合创新的光学结构设计，有效抑制杂散光干扰，在保证高达40dB偏振消光比（PER）测量动态范围的同时，实现了多通道自动切换测试，无需人工调整对准，显著提升阵列器件的检测效率。

系统支持多种可互换接口，可灵活适配不同封装形式的保偏器件，除PER外，还可同步测量偏振角、偏振相关损耗（PDL）及插入损耗（IL）等关键参数。配备功能完善的上位机软件，界面简洁直观，支持参数一键化测量与数据导出，适用于研发、生产及质检等多种光学测量场景。

产品特点

8605M 系统通过高速功率计结合前置旋转起偏器的光学结构，实现对多通道偏振消光比（PER，最高可达 40 dB）及偏振角的高精度测量，同时支持无源器件的插入损耗（IL）或有源器件的光功率测试。

核心特性

• 可达40dB的高精度 PER 测量
  采用独特光学架构，偏振消光比测量动态范围高达 40 dB，满足高消光比测试需求。

• 多参数并行测试
  单次连接即可完成所有通道的 PER、偏振角、插入损耗（或绝对光功率）测量，无需重复对接或借助外部校准平台耦合，提升测试效率与一致性。

• 高速自动化测试
  配备专利设计的 5 mm 大口径探测器，实现行业领先的测试速度。例如，12 芯光纤阵列单元（FAU）可在 30 秒内完成全通道参数测量。

• 全面参数支持
  支持偏振消光比（PER）、偏振角（Angle）、插入损耗（IL）及绝对光功率（Absolute Power）等多类偏振与传输参数测量。

• 灵活定制配置
  可根据用户需求定制不同工作波长、偏振光源及测试模块，适应多样化的偏振测试场景。

• 阵列化测试能力
  支持 MPO 等多通道光纤阵列测试，可搭配上位机软件实现长期 PER 监测、IL 测试及保偏光纤主轴角度检测。