大动态范围PER，高达40db
多通道阵列保偏器件测量
FC、LC、SC、FA、MPO等多种接口可选
支持RS232接口与上位机操作
支持长期PER监测，IL测试
保偏光纤光轴角度测试
丨产品简介
本仪器是专为高密度光连接而设计的一款集成化偏振分析解决方案，将消光比PER，多通道光源OLS、插损IL、光轴角度ANG与智能分析软件集于一体，致力于为多通道保偏阵列FAU、光引擎ELSFP等先进器件提供快速、精准的偏振特性测试，是提升生产与研发效率的理想工具。
丨产品特点
大动态范围PER
支持多通道阵列保偏器件测试
FA、MPO等多接口互换
多芯测试效率高
高精度与稳定性
IL和保偏光纤光轴角度测试
RS232接口通信支持上位机操作
支持在线监测
支持MT-FA,MT-MT测试
MT-FA |
MT-MT |
丨应用场景
·高产量生产测试
适用于数据中心高速光模块、MPO预端接跳线等产品的大批量、自动化产线测试，快速完成
·极性、插损（IL）与角度对准验证。
·严格的来料检验（IQC）与质量保证（QA）
确保上游供应的MPO连接器、保偏光纤组件等关键物料符合偏振特性规格，从源头保障系统集成质量。
·先进器件研发与表征
为FAU（光纤阵列单元）、ELSFP（嵌入式激光器小型可插拔）光引擎等前沿器件的研发提供
PER、耦合角度及绝对功率的综合性能分析。
丨技术指标
参数 | 技术指标 | ||
消光比部分 | |||
波长范围 | A型短波 600-1200nm | B型长波 1200-1700nm | |
最大输入功率 | +10dBm | ||
输入功率范围 | -40~+10dBm | ||
最大PER | 30dB | 40dB | |
PER动态范围 | -40~+10dBm：30db | -30~+10dBm：40db -40~-30dbm：30db | |
PER分辨率 | <10dB：0.001dB ≥10dB：0.01dB | ||
PER精确度 | PER≤2dB：≤±0.1dB PER<30dB：< ±0.3dB PER≥30dB：< ±1.0dB | ||
偏振角度分辨率 | 0.11° | ||
偏振角度精确度 | < ±0.45° | ||
单通道测量速度 | 0.5s | ||
多通道测量速度 | 1.5s/通道 | ||
消光比连接头类型 | MPO(亦支持更换MT,FC,SC,LC接口) | ||
光开光部分 | |||
光开光通道数 | 12或24 | ||
光开光接口 | FC/APC | ||
光源部分 | |||
光源类型 | SLED | ||
光源波长 | A型：850nm和980nm，B型：1310nm和1550nm | ||
光源通道数 | 内置2通道+外接2通道 | ||
光源功率 | 2mw | ||
其他 | |||
通信接口 | RS232 | ||
交流电源输入 | 220V，50Hz | ||
开机热机时间 | 15min | ||
工作温度 | +10～+40℃ | ||
存储温度 | -15～+70℃ | ||
重量 | 4kg | ||
外观尺寸 | 235*104*300 mm（带脚） | ||
| 购买人 | 会员级别 | 数量 | 属性 | 购买时间 |
|---|
