丨产品简介

JW8105A/S是一款集高速采样、多波长可编程与偏振分析于一体的高精度光功率测试平台。

设备采用100μs高速采样技术，支持最高10Ksps可调采样率与大动态范围测量，具备PDL（偏振相关损耗）测试、

触发存储与模拟电压输出功能，可选网口通信与彩屏交互界面，满足DWDM、AWG、PLC等精密光学元件的多场

景测试需求。

丨核心特点

高速高精度采样体系

支持100μs高速采样，最高10Ksps可设采样率，每通道64K存储深度，结合触发存储与模拟电压输出，实现动态信号的精准捕捉与系统联动。

智能化波长与偏振管理

具备可编程波长设置、编辑与保存功能，支持PDL测量，适配多波长测试与偏振敏感器件的分析需求。

工业级通信与集成能力

标配RS232-C接口，可选网口通信，兼容精简指令（提速）与标准指令（稳连），提供丰富指令集与Demo软件，支持二次开发与系统集成。

人性化操作与可靠性设计

JW8105S款升级彩屏显示与全新外壳，提升交互体验；可选光功率探测范围，适配不同位点测试场景。

丨应用领域

光无源器件产线测试

用于DWDM器件、阵列波导光栅（AWG）、平面光波导（PLC）等元件的插损、回损及PDL参数检测，提升产线自动化测试效率。

光纤通信系统性能监测

在高速光模块、相干通信系统中，实现多通道光功率实时采集与偏振特性分析，保障链路传输质量。

科研与实验室精密光学测量

为硅光子器件、微环谐振腔等前沿研究提供高精度功率监测与偏振态分析支持。

工业自动化测试集成

通过开放指令集与通信接口，嵌入产线自动化平台，实现多设备联动测试与数据追溯。(JW8105A)(JW8105S)

丨技术参数