有源测试模块JW1620

产品描述

可对激光器芯片进行电流监控，可配合高低温试验箱进行高低温老化实验监控，自动进行阈值判定及数据曲线生成。


产品特点

l  芯片夹具可定制

l  测试路数可定制

l  测试数据图形化

l  测试时间可设置

l  测试激光器芯片老化

l  测试数据阈值自动判定

技术指标