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       JW3319PLC光分路器裸器件测试系统,专为解决当前PLC裸器件测试面临测试效率低,测试成本高,测试难度大等问题。提供了一种崭新的PLC测试方案。本系统结合了精密平台、高速偏振控制器、高速光功率计的优势,并采用优化控制算法,极大的减少了测试时间,降低了测试成本,提高了产品测试效率,并增加了PLC等级设置等更完善的数据处理和存储功能。
 
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