JW18001-LIV 激光芯片测试系统是一款上海嘉慧最新研发的测量激光芯片电压电流功率曲线参数的测试仪器。可直接测量激光器裸片，并控制芯片处于恒温状态。它针对激光器芯片的测试进行了软硬件设计，可测试LIV、PER及光谱仪相关参数。主机设备及平台可根据应用场景进行移动测试，探针通电，夹具可配合高低温实验箱进行高温老化实验监控，小型水冷循环系统可在进行高温老化实验后实现恒温控制，夹具具有温度检测功能，提高测试效率。上位机软件功能强大易操作，界面风格简洁。支持阈值自动判定及测试数据图形化。