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首页 >> 解决方案 >> 应用案例-【有源】 >> JW18001 LDM老化测试系统
JW18001 LDM老化测试系统
    发布时间: 2021-03-22 14:39    
产品特点

1.测试数据阈值自动判定
2.芯片夹具可定制
3.测试路数可定制
4.测试数据图形化
5.测试激光器芯片老化
6.测试时间可设置

产品概述

JW18001—LDM老化测试系统，针对激光器芯片，chip, Bar条，裸Die和COC器件的老化过程监控。采用系统架构及分离夹具进行的软硬件设计，主机安装在标准19英寸机柜中，分离夹具通过高温导线与主机相连，营造出实时可控的老化环境。界面操作简单，数据图形化。设计有不同种类的老化测试夹具,适合不同封装，不同尺寸的器件。老化完成后即可直接把夹具整体放到恒温测试平台上完成器件的LIV曲线，光谱和消光比的测试。