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  • 有源测试模块JW1620
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  • 有源测试模块JW1620

    产品特点


    l  芯片夹具可定制

    l  测试路数可定制

    l  测试数据图形化

    l  测试时间可设置

    l  测试激光器芯片老化

    l  测试数据阈值自动判定


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产品特点


l  芯片夹具可定制

l  测试路数可定制

l  测试数据图形化

l  测试时间可设置

l  测试激光器芯片老化

l  测试数据阈值自动判定




有源测试模块JW1620

产品描述

可对激光器芯片进行电流监控,可配合高低温试验箱进行高低温老化实验监控,自动进行阈值判定及数据曲线生成。


产品特点


l  芯片夹具可定制

l  测试路数可定制

l  测试数据图形化

l  测试时间可设置

l  测试激光器芯片老化

l  测试数据阈值自动判定

技术指标

被测器件

激光器芯片

每个夹具测试芯片数

20

通道电流

150mA±3

 夹具数

2

 通信接口

DB25

  • 购买人 会员级别 数量 属性 购买时间
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