产品特点
l 芯片夹具可定制
l 测试路数可定制
l 测试数据图形化
l 测试时间可设置
l 测试激光器芯片老化
l 测试数据阈值自动判定
有源测试模块JW1620
产品描述
可对激光器芯片进行电流监控,可配合高低温试验箱进行高低温老化实验监控,自动进行阈值判定及数据曲线生成。
产品特点
l 芯片夹具可定制
l 测试路数可定制
l 测试数据图形化
l 测试时间可设置
l 测试激光器芯片老化
l 测试数据阈值自动判定
技术指标
被测器件
激光器芯片
每个夹具测试芯片数
20
通道电流
150mA±3
夹具数
2
通信接口
DB25