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主要特点（Key benefits）
（1）：免带纤熔接、免匹配液耦合，大幅降低测试成本，简化员工测试步骤，提高测试效率；
（2）：使用精密电动平台自动测试原理，极大的降低测试难度，减少测试时间；
（3）：采用高速偏振控制器，更全面邦加球覆盖率，PDL测试值更准确；
（4）：使用单纤归零技术，相比同类多通道测试仪需要归零多个通道而言，大幅减少归零时间，由于只有一个归零通道，不会像多通道测试仪那样有不同通道间的不平衡性；
（5）：提供1310nm、1490nm、1550nm三个标配测试波长，提供1260nm、1610nm两个用户选配波长，最多支持五波长测试；
（6）：三波长IL测试仅需3秒；三波长IL+PDL测试仅需6秒;
（7）：全自动测试、数据分析、电子表格保存功能；
（8）：PLC阈值设置、产品特性等级设置、分等级存储等功能，满足最新的PLC光分路器测试应用要求；
（9）：专业技术团队售后服务，使您测试无后顾之忧；

应用范围：




JW3319 

带纤祼器件测试系统

- 光学器件的生产和研究

- 光纤传感研究

- 光纤CATV工程

- 光纤通信工程
- 其他光纤工程
JW3319 带纤祼器件测试系统
 
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       JW3319PLC光分路器裸器件测试系统，专为解决当前PLC裸器件测试面临测试效率低，测试成本高，测试难度大等问题。提供了一种崭新的PLC测试方案。本系统结合了精密平台、高速偏振控制器、高速光功率计的优势，并采用优化控制算法，极大的减少了测试时间，降低了测试成本，提高了产品测试效率，并增加了PLC等级设置等更完善的数据处理和存储功能。

产品

介绍

带纤祼器件测试系统与传统8通道PLC测试系统对比
测试步骤自动测试系统8通道测试系统对比说明
归零

只需剥1条光纤；

切割1次；

无需熔接

只有一个通道归零；

分别剥8条光纤；

分别切割8次；

分别熔接8次；

分别对8个通道归零；

归零效率提高8倍以上；

无通道误差；

无通道间非线性漂移；

测试步骤1PLC进线端与光源线熔接；PLC进线端与光源线熔接；相同；
测试步骤2剥PLC带纤侧并切割；剥PLC带纤侧并切割；相同；
测试步骤3无此步骤剥8通道测试系统输入侧带纤并切割；

省去此步骤时间，提高测试效率；

PLC测试系统无此步骤；

8通道设备此步骤约需10S；

测试步骤4无此步骤进行带纤熔接机熔接；

无带纤熔接机熔接步骤；

无带纤熔接失败重复步骤；

无带纤熔接时引入的IL及PDL损耗，降低外界耦合误差；

无带纤熔接机，降低设备成本；

PLC测试步骤系统无此步骤；提高测试效率；

测试步骤5采用高速PDL模块进行IL/PDL测试；采用低速、经济型PDL模块进行IL/PDL测试

PLC自动测试系统测试单波长8芯PLC约合4S；

8通道测试系统测试单波长8芯PLC约合10S；

PLC自动测试系统采用高速偏振模块，邦加球覆盖率高，测试值更为准确；

产品展示
1

JW3319      -        X   -    X

订货信息

JW3319技术参数

2
4


产品型号JW3319

探测器类型 

 Sensor element 

铟砷化镓（铟镓砷）①

InGaAs

探测器大小

 Detector size

Φ3.0mm②

 波长测试范围 

Wavelength range 

850~1700nm

光功率探测范围

Power range

+3dBm~-50dBm

线性度

Linearity 

 ±0.04dB (+3~-35dBm) ③

 内置光源波长

Wavelength 

1310nm,1490nm,1550nm(必配) 

1260nm,1610nm（选配波长）

激光器类型

 Laser type

 DFB

 光输出接口

  Output Interface

 FC/PC

 光输出功率

Power

 >-1dBm ④

 最高采样率 

Sampling rate（Max）

50KSPS⑤

偏振相关损耗

PDL

<0.02dB

偏振相关损耗不确定度

PDL Uncertainty

  <0.04dB

邦加球覆盖率

 Poincare Sphere

 >95%

测量单位

 units

dB

测试精度

Accuracy

 0.01dB

通信接口

Communication interface

 RS232/USB

工作温度(℃)   

 Operating temperature

 -5～+40

存储温度(℃) 

 Storage conditions

 -25～+70

工作电源（V）

Power

AC90～260（50Hz）

重量(kg)    

 Weight

15
外观尺寸(mm)   450*420*130 
5
JW3319配置清单
技术指标

注：
① JW3319使用InGaAs为探测元件，可测试850~1700nm波长的光源功率。
② 该高速光功率计选用直径为3mm的大探测器。
③ 线性度指标是在20~25℃室温下测得。
④ 光源输出功率指每一个内置波长激光器的输出功率，在室温下测得。
⑤ 最高采样速率是指PLC自动测试系统在进行PDL高速测试时的最高速率。 

3
邦加球覆盖率
JW3319具备高速偏振控制器，可在非常短的时间内，实现邦加球的全面覆盖。图5-1，图5-2分别为JW3319 PLC自动测试系统高速偏振控制器与普通机械三环形偏振控制器产生的不同偏振态与邦加球覆盖率对比。

P：含PDL测试功能

I ：不含PDL测试功能

1：三波长1310/1490/1550nm

2：四波长1310/1490/1550/1625nm

3：五波长1270/1310/1490/1550/1625nm

 图5-2 ：机械三环形偏执控制器扰偏邦加球覆盖率
图5-1：PLC自动测试系统偏振控制器扰偏邦加球覆盖率