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  • JW18001 LDM老化测试系统
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  • JW18001 LDM老化测试系统

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产品信息
产品特点

1.测试数据阈值自动判定
2.芯片夹具可定制
3.测试路数可定制
4.测试数据图形化
5.测试激光器芯片老化
6.测试时间可设置

产品概述

JW18001—LDM老化测试系统，针对激光器芯片，chip, Bar条，裸Die和COC器件的老化过程监控。采用系统架构及分离夹具进行的软硬件设计，主机安装在标准19英寸机柜中，分离夹具通过高温导线与主机相连，营造出实时可控的老化环境。界面操作简单，数据图形化。设计有不同种类的老化测试夹具,适合不同封装，不同尺寸的器件。老化完成后即可直接把夹具整体放到恒温测试平台上完成器件的LIV曲线，光谱和消光比的测试。

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  • JW18001-LIV 激光芯片测试系统

    可测激光芯片裸片。

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  • 光纤器件综合应用平台

    产品特点

    1.平台采用主控板+转接板+功能模块的硬件架构设计
    2.平台模块化设计，可灵活配置、扩展应用
    3.支持热插拔，机箱内置槽位识别，上电控制等功能
    4.支持网口或串口通信控制
    5.JW18001测试平台配有Windows10操作系统
    6.可根据需求选择配备机箱显示屏幕及按键，灵活方便
    7.JW18000/18001测试平台最多支持七个模块
    8.JW18002最多支持两个模块
    9.JW18003最多支持三个模块

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