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上海嘉慧推出JW3319 PLC祼器件测试系统
来源:上海嘉慧 | 作者:joinwit | 发布时间: 2013-07-20 | 14236 次浏览 | 分享到:
       JW3319PLC光分路器裸器件测试系统，专为解决当前PLC裸器件测试面临测试效率低，测试成本高，测试难度大等问题。提供了一种崭新的PLC测试方案。本系统结合了精密平台、高速偏振控制器、高速光功率计的优势，并采用优化控制算法，极大的减少了测试时间，降低了测试成本，提高了产品测试效率，并增加了PLC等级设置等更完善的数据处理和存储功能。

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